Kucharski, D.; Gąska, A.; Kowaluk, T.; Stępień, K.; Rępalska, M.; Gapiński, B.; Wieczorowski, M.; Nawotka, M.; Sobecki, P.; Sosinowski, P.;
et al. Multi-Task Deep Learning for Surface Metrology. Sensors 2025, 25, 7471.
https://doi.org/10.3390/s25247471
AMA Style
Kucharski D, Gąska A, Kowaluk T, Stępień K, Rępalska M, Gapiński B, Wieczorowski M, Nawotka M, Sobecki P, Sosinowski P,
et al. Multi-Task Deep Learning for Surface Metrology. Sensors. 2025; 25(24):7471.
https://doi.org/10.3390/s25247471
Chicago/Turabian Style
Kucharski, Dawid, Adam Gąska, Tomasz Kowaluk, Krzysztof Stępień, Marta Rępalska, Bartosz Gapiński, Michal Wieczorowski, Michal Nawotka, Piotr Sobecki, Piotr Sosinowski,
and et al. 2025. "Multi-Task Deep Learning for Surface Metrology" Sensors 25, no. 24: 7471.
https://doi.org/10.3390/s25247471
APA Style
Kucharski, D., Gąska, A., Kowaluk, T., Stępień, K., Rępalska, M., Gapiński, B., Wieczorowski, M., Nawotka, M., Sobecki, P., Sosinowski, P., Tomasik, J., & Wójtowicz, A.
(2025). Multi-Task Deep Learning for Surface Metrology. Sensors, 25(24), 7471.
https://doi.org/10.3390/s25247471
