Order Article Reprints

Kucharski D, Gąska A, Kowaluk T, Stępień K, Rępalska M, Gapiński B, Wieczorowski M, Nawotka M, Sobecki P, Sosinowski P, et al. Multi-Task Deep Learning for Surface Metrology. Sensors. 2025; 25(24):7471. https://doi.org/10.3390/s25247471

Kucharski, Dawid, Adam Gąska, Tomasz Kowaluk, Krzysztof Stępień, Marta Rępalska, Bartosz Gapiński, Michal Wieczorowski, Michal Nawotka, Piotr Sobecki, Piotr Sosinowski, and et al. 2025. "Multi-Task Deep Learning for Surface Metrology" Sensors 25, no. 24: 7471. https://doi.org/10.3390/s25247471

Kucharski, D., Gąska, A., Kowaluk, T., Stępień, K., Rępalska, M., Gapiński, B., Wieczorowski, M., Nawotka, M., Sobecki, P., Sosinowski, P., Tomasik, J., & Wójtowicz, A. (2025). Multi-Task Deep Learning for Surface Metrology. Sensors, 25(24), 7471. https://doi.org/10.3390/s25247471